Neue Diagnosesoftware von Samsung Electronics beschleunigt die Entwicklung von ICs mit Strukturen im Nanometerbereich
Schwalbach/Ts., Deutschland, 12. Mai 2005 – Samsung Electronics Co. Ltd., Marktführer bei modernsten Halbleitertechnologien, hat eine neue Diagnosesoftware für Halbleiterprodukte mit Strukturen im Nanometerbereich entwickelt. Mit dem neuen Softwarepaket lassen sich Fehler,...
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